EEPROM,SPROM等以及带电池的RAM芯片,均极易破坏程序.这类芯片是否在使用<测试仪>进行VI曲线扫描后,是否就破坏了程序,还未有定论.如此,同仁们在遇到这种情况时,还是小心为妙.笔者曾经做过多次试验,可能大的原因是:检修工具(如测试仪,电烙铁等)的外壳漏电 所致.
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